電子天平改進的具體方法

隨著技術的進步，實驗中結構復雜、操作不便的電光分析天平逐漸被數(shù)字式、易操作的數(shù)顯電子天平所替代。鑒于原有電光分析天平的老化，用數(shù)顯電子天平替代原有電光分析天平勢在必行。為適應這趨勢，對現(xiàn)有古埃磁天平法測定物質磁化率的裝置進行了改進。以不破壞數(shù)顯電子天平本身結構為原則。

具體改進的方法：以賽多利斯為例，在數(shù)顯電子天平（BSA224S，賽多利斯科學儀器（北京）有限公司）的稱盤上放置略長于數(shù)顯電子天平寬度的質量輕、非圓形（圓形易滾動，不穩(wěn)定）的橫梁（如：塑料或有機玻璃等，稱為上橫梁），在上橫梁的兩端各刻個凹槽（便于固定上橫梁和下橫梁）；用另略長于天平寬度的質量輕的制品（如：塑料或有機玻璃等）制成放在數(shù)顯電子天平底部的下橫梁（兩端和中間位置各刻個凹槽，便于固定上橫梁和樣品管）；用兩根長度基本相同、兩端分別做成圓環(huán)的細銅絲或細鐵絲或尼龍線等，將上橫梁和下橫梁固定（確保下橫梁懸于數(shù)顯電子天平底部），下橫梁中間凹槽用細線垂下，通過勵磁柜上方的圓孔將樣品管下端置于磁場的中心。

實驗方法除天平的使用方法外，所有其他操作與傳統(tǒng)的實驗步驟完全相同。數(shù)顯電子天平的使用方法是：在未加樣品管時先[去皮]清零（即去皮鍵），然后按實驗步驟，將樣品管吊在細繩下方，分別測量樣品管無磁場（m）和有磁場時樣品的質量（m），再測量樣品管裝樣后無磁場（m）和有磁場時樣品的質量（m）。