電子天平改進(jìn)的具體方法

隨著(zhù)技術(shù)的進(jìn)步，實(shí)驗中結構復雜、操作不便的電光分析天平逐漸被數字式、易操作的數顯電子天平所替代。鑒于原有電光分析天平的老化，用數顯電子天平替代原有電光分析天平勢在必行。為適應這一趨勢，對現有古埃磁天平法測定物質(zhì)磁化率的裝置進(jìn)行了改進(jìn)。以不破壞數顯電子天平本身結構為原則。

具體改進(jìn)的方法：以賽多利斯為例，在數顯電子天平（BSA224S，賽多利斯科學(xué)儀器（北京）有限公司）的稱(chēng)盤(pán)上放置一略長(cháng)于數顯電子天平寬度的質(zhì)量輕、非圓形（圓形易滾動(dòng)，不穩定）的橫梁（如：塑料或有機玻璃等，稱(chēng)為上橫梁），在上橫梁的兩端各刻一個(gè)凹槽（便于固定上橫梁和下橫梁）；用另一略長(cháng)于天平寬度的質(zhì)量輕的制品（如：塑料或有機玻璃等）制成放在數顯電子天平底部的下橫梁（兩端和中間位置各刻一個(gè)凹槽，便于固定上橫梁和樣品管）；用兩根長(cháng)度基本相同、兩端分別做成圓環(huán)的細銅絲或細鐵絲或尼龍線(xiàn)等，將上橫梁和下橫梁固定（確保下橫梁懸于數顯電子天平底部），下橫梁中間凹槽用細線(xiàn)垂下，通過(guò)勵磁柜上方的圓孔將樣品管下端置于磁場(chǎng)的中心。

實(shí)驗方法除天平的使用方法外，所有其他操作與傳統的實(shí)驗步驟完全相同。數顯電子天平的使用方法是：在未加樣品管時(shí)先[去皮]清零（即去皮鍵），然后按實(shí)驗步驟，將樣品管吊在細繩下方，分別測量樣品管無(wú)磁場(chǎng)（m）和有磁場(chǎng)時(shí)樣品的質(zhì)量（m），再測量樣品管裝樣后無(wú)磁場(chǎng)（m）和有磁場(chǎng)時(shí)樣品的質(zhì)量（m）。