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上海菁華723光度計誤差的來(lái)源
一種雜散光主要受光學(xué)系統缺陷影響,例如光學(xué)元件透鏡、光束孔徑不相匹配,光枴等元件的損傷,。723分光光度計這些光線(xiàn)波長(cháng)與測定波長(cháng)不同,由于種種原因偏離正常光路而被檢測器接收。通常所指的雜散光多是由于儀器光學(xué)系統設計不合理零件加工不精細、運輸安裝過(guò)程發(fā)生位移等造成的,屬于儀器設計本身的問(wèn)題。上海菁華723分光光度計其中光柵是雜散光的根本來(lái)源,它引起的雜散光占總量的80%以上,成為測量中誤差的最大來(lái)源。上海菁華科技儀器有限公司在實(shí)際的723分光光度計定量分析過(guò)程中,容易出現“假吸收峰”現象。即當光譜掃描的波長(cháng)低于220nm時(shí),短波長(cháng)增加了原樣品的吸收,而邊緣波段的雜散光在短波情況下會(huì )直線(xiàn)增加,而雜散光透過(guò)率增加而大部分都通過(guò),造成“假吸收峰”,使實(shí)際吸收光度大于測量吸光度,引起誤差。